高低溫試驗(yàn)箱在低溫運(yùn)行階段，若箱內(nèi)水分凝結(jié)成霜后無(wú)法正常排出或融化，易出現(xiàn) “卡霜” 現(xiàn)象 —— 霜層附著在蒸發(fā)器、風(fēng)道或樣品表面，不僅影響制冷效率與溫度均勻性，嚴(yán)重時(shí)還會(huì)堵塞風(fēng)道、損壞制冷部件。需精準(zhǔn)定位卡霜成因，采取針對(duì)性解決方案，保障設(shè)備穩(wěn)定運(yùn)行。

制冷系統(tǒng)異常是卡霜的核心成因之一。若蒸發(fā)器表面溫度過(guò)低（低于 – 25℃且持續(xù)時(shí)間過(guò)長(zhǎng)），高低溫試驗(yàn)箱箱內(nèi)空氣中的水分會(huì)快速凝結(jié)成厚霜，且超出設(shè)備自動(dòng)除霜系統(tǒng)的處理能力；此外，制冷系統(tǒng)中制冷劑充注量不當(dāng)也會(huì)引發(fā)卡霜 —— 制冷劑過(guò)多會(huì)導(dǎo)致蒸發(fā)器負(fù)荷過(guò)大，局部溫度驟降結(jié)霜；制冷劑過(guò)少則使制冷效率下降，箱內(nèi)溫度波動(dòng)大，水分反復(fù)凝結(jié)成霜。同時(shí)，若蒸發(fā)器翅片變形或積塵，會(huì)阻礙氣流循環(huán)，導(dǎo)致局部冷空氣滯留，加速霜層堆積形成卡霜。

環(huán)境濕度與高低溫試驗(yàn)箱箱門操作不當(dāng)會(huì)加劇卡霜問(wèn)題。試驗(yàn)箱所處環(huán)境濕度過(guò)高（高于 75% RH）時(shí)，大量濕氣會(huì)隨箱門開(kāi)啟進(jìn)入箱內(nèi)，在低溫環(huán)境下迅速凝結(jié)成霜；若箱門開(kāi)啟頻率過(guò)高、開(kāi)啟時(shí)間過(guò)長(zhǎng)，或箱門密封膠條老化導(dǎo)致密封性下降，會(huì)持續(xù)引入外界濕氣，使箱內(nèi)水分含量超標(biāo)，為卡霜提供條件。此外，若樣品本身含有的水分未提前干燥處理，在低溫測(cè)試中會(huì)釋放水分，進(jìn)一步增加箱內(nèi)濕度，加速霜層形成。

針對(duì)卡霜問(wèn)題，需從 “即時(shí)處理” 與 “長(zhǎng)期預(yù)防” 兩方面制定解決方案。當(dāng)出現(xiàn)輕微卡霜時(shí)，可暫停低溫試驗(yàn)，啟動(dòng)設(shè)備的手動(dòng)除霜功能 —— 通過(guò)加熱管升溫融化霜層，待霜層完全融化后排出冷凝水，再重新啟動(dòng)試驗(yàn)；若卡霜嚴(yán)重堵塞風(fēng)道，需停機(jī)后手動(dòng)清理蒸發(fā)器表面的厚霜，清理時(shí)需使用軟毛刷或干布，避免劃傷蒸發(fā)器翅片。針對(duì)制冷系統(tǒng)異常，需請(qǐng)專業(yè)人員檢測(cè)制冷劑充注量，補(bǔ)充或釋放制冷劑至標(biāo)準(zhǔn)范圍，同時(shí)清潔蒸發(fā)器翅片、修復(fù)變形部件，恢復(fù)氣流循環(huán)效率。

長(zhǎng)期預(yù)防需優(yōu)化操作與環(huán)境管理。將高低溫試驗(yàn)箱置于濕度低于 65% RH 的環(huán)境中，必要時(shí)在設(shè)備周邊加裝除濕機(jī)；減少箱門開(kāi)啟頻率，每次開(kāi)啟時(shí)間控制在 30 秒內(nèi)，定期檢查并更換老化的箱門密封膠條；測(cè)試前對(duì)含濕量高的樣品進(jìn)行干燥預(yù)處理，降低箱內(nèi)水分來(lái)源。此外，可根據(jù)測(cè)試需求調(diào)整除霜周期，在低溫試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間較長(zhǎng)時(shí)，適當(dāng)縮短自動(dòng)除霜間隔，避免霜層堆積形成卡霜。

通過(guò)精準(zhǔn)排查卡霜成因、及時(shí)處理故障、優(yōu)化日常操作，可有效解決高低溫試驗(yàn)箱卡霜問(wèn)題，避免因卡霜影響測(cè)試精度與設(shè)備壽命，為低溫環(huán)境模擬測(cè)試提供穩(wěn)定可靠的設(shè)備保障。